내쇼날인스트루먼트

텍트로닉스와 협력 개발한 업계 최고 성능의 PXI 디지타이저 출시

6월 초, 반도체 자동화 테스트 컨퍼런스서 새 제품 선보일 예정

내쇼날인스트루먼트는 빠르게 성장하고 있는 PXI의 성능을 보완한 업계 최고 성능의 PXI 디지타이저를 출시한다고 발표했다.

오실로스코프 업계 리더인 텍트로닉스와 공동으로 개발한 NI PXIe-5186은 최대 5 GHz 대역폭과 12.5 GS/s 샘플 속도를 구현하는 텍트로닉스의 Enabling Technology를 적용했다. 내쇼날인스트루먼트는 12.5 GS/s 샘플 속도와 함께 3 GHz 대역폭을 제공하는 NI PXIe-5185도 발표했다. 두 디지타이저는 내쇼날인스트루먼트 PXI 기반 하드웨어 및 소프트웨어 플랫폼으로써 자동화 테스트 어플리케이션에 최적화된 성능을 제공한다.

새 디지타이저의 독자적인 텍트로닉스 성능 오실로스코프 ASIC은 고속 신호 수집에 낮은 노이즈와 높은 선형성 기반을 제공하며, 고도로 안정적인 IBM 7HP GiGe 프로세스를 기반으로 한다. 텍트로닉스가 제공하는 최상 신호 정확도의 한 예는 디지타이저에서 엄청나게 낮은 샘플링 지터를 제공하는 Enabling Technology이다. 디지타이저의 매우 낮은 500 fs RMS 통합 지터는 5 GHz에서 5.5 ENOB (Effective Number of Bit: 유효 비트 수)로 이어진다. 내쇼날인스트루먼트의 독자 기술은 보다 빠른 테스트 실행을 위한 높은 데이터 전송률과 다채널의 통합형 테스트 시스템 구축을 위한 정밀 멀티모듈 타이밍 및 동기화를 제공한다. 3U PXI Express 플랫폼을 위해 제작된 이 디지타이저는 700 MB/s의 빠른 속도로 스트리밍과 여러 모듈에서 160 ps 분해능 내로 동기화가 가능하다. 이 같은 기능을 갖춘 디지타이저는 자동화 제품 테스트, 반도체 ATE 및 고-에너지 물리학 측정 시스템과 같은 어플리케이션에 이상적이다.

■ 6월, 자동화 테스트 컨퍼런스

한국내쇼날인스트루먼트(이하 한국NI)는 이번 제품 출시와 함께 반도체 개발 및 품질 검증 연구원을 위한 자동화 테스트 컨퍼런스를 개최하고, 신제품 소개 및 데모시연을 진행한다.
서울 코엑스에서 열리는 본 컨퍼런스에는 한국NI와 한국텍트로닉스가 함께 새 디지타이저 기술에 대해 소개하고, 반도체 연구원을 대상으로 혼합 신호(mixed signal) 칩 테스트를 위한 PXI 기반 시스템 구성법을 제안할 예정이다.
특히, 현 한국 비파괴학회 학술분과 위원이자 IRWAVE의 주훈 대표가 특별 연사로 초청되어, 최근 이슈화가 되고 있는 열화상을 이용한 비파괴 PCB 성능 검사법을 소개한다. 이 외에도 NFC 무선 프로토콜 테스트 세션과 모바일 칩셋 테스트를 위한 최신 기술 발표 역시 눈 여겨 볼만 하다.
위 세미나 정보 및 등록 절차와 새 제품에 대한 자세한 정보는 ni.com/korea를 방문하여 자세히 확인할 수 있다.