한국NI

양산단계에 적용할 수 있는, 새로운 PXI 타입 반도체 테스트 시스템 홍보에 역량 집중

한국NI 부스 전경

대표적인 PXI 타입 계측·테스트 업체인 한국NI는 IoT(Internet of Things) 및 5G 등이 전 세계적인 화두로 부상하면서, 이슈가 되고 있는 RF칩으로 인해 PXI 타입 계측기에 대한 수요가 늘어나고 있는 계측·테스트 업계에서, 유리한 위치를 점하고 있는 업체.

한국NI는 이번 전시에서도 역시, 자사의 주력제품인 PXI 타입 계측기를 선보였다.

특히, 지난해 정식 출시된 새로운 반도체 테스트 시스템(STS, Semiconductor Test System)을 전시했는데, 이 제품은 PXI를  개발단계뿐만 아니라, 양산단계로까지 확대하고 있는 NI의 기술적 전개를 보여준다는 점에서 주목할 필요가 있다.

한국NI가 선보인 이 STS는 기존의 ATE 테스터보다 좁은 작업 공간에서 사용이 가능하며, 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다는 장점이 있다.

또한, 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기 때문에 최근 이슈가 많은 RF 전력 증폭기(RF PA)아 가속도계, 전력 관리 IC(PMIC) 등과 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이다.

한국NI 한정규 대리는 무선통신 반도체와 같은 비메모리 테스트 수요가 확대되면서, PXI 타입의 계측기가 각광받고 있으며, 자사가 출시한 이 STS는 개발부터 양산단계에까지 적용될 수 있어서, 개발부서와 양산부서 간의 의견 차를 해소, 타임투마켓을 줄여줄 뿐 아니라, 기존 대형 ATE에 비해 개발비용을 크게 줄일 수 있다고 강조했다.

한편, 한국NI는 700V 이상의 고전압이 요구되는 Motor Driver IC를 디자인할 때 효율적인 고전력 PXI 테스터도 함께 전시했다.