RF 반도체, 전력 반도체와 관련하여 설계부터 테스트, 공정 모니터링까지 다양한 분야에 걸쳐 적용할 수 있는 NI 솔루션 선보일 예정
<기술 세미나 일정>
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1월 30일 (수) |
1월 31일 (목) |
2월 1일 (금) |
11:00 ~11:30 |
PXI 시스템의 통합 방안 |
반도체 특성 평가와 In-House |
RF 반도체 테스트를 위한 PXI 시스템 |
14:00 ~14:30 |
차량용 반도체 및 전력 반도체 테스트 자동화 |
RF 설계 및 테스트의 통합 |
테스트하우스의 양산 테스트 비용 절감(CTO) T&P Semi 김기열 대표 |
16:00 ~16:30 |
공정 장비 개발을 위한 임베디드 시스템 NI 전략마케팅 윤주영 대리 |
FPGA 기반 측정 기술을 위한 모듈 개발 JK Instruments 강종구 대표이사 |
고속 디지털 PMU 소개 |
한국내쇼날인스트루먼트(대표 김주엽, ni.com/korea, 이하 NI)는 1월 30일부터 2월 1일까지, 서울 코엑스에서 열리는 국내 최대 규모의 반도체재료장비 전시회 ‘SEMICON Korea 2013'에 참가한다.
최근 업계 이슈가 되고 있는 RF 반도체, 전력 반도체와 관련하여 설계부터 테스트, 그리고 공정 모니터링까지 다양한 분야 걸쳐 적용할 수 있는 NI 솔루션을 선보일 예정이다.
주요 전시 데모로는 RFIC 검증을 위한 비용 효율적인 RF 테스트 옵션, SMU를 활용한 LDO 테스트 시뮬레이션, FPGA기반의 고속 DC parametric 테스트, 고속 디지털 신호의 Jitter 분석, 그리고 RF 전력증폭기의 시뮬레이션과 실제 테스트 결과를 산출하는 PXI 플랫폼 등 다양한 솔루션을 선보인다.
한편, 한국NI 전시장(A홀 2500번)에서는 한국NI 엔지니어 및 반도체 테스트 사업을 이끌고 있는 T&P Semi, 온테스트, JKI, AWR의 외부 연사를 초청하여 전시 기간 동안 하루 3 차례에 걸쳐 기술 세미나를 진행한다.
이번 전시회를 담당하고 있는 한국NI 전략마케팅부 이동희 대리는 “여러 반도체 공정과정에 걸쳐 적용될 수 있는 NI의 솔루션 사례와 가능성을 알릴 예정이다. 전시와 함께 기술 세미나도 진행 예정이니 많은 관심과 참여를 부탁드린다”라고 전했다.