한국NI, 『SEMICON KOREA 2014』에서 반도체 양산 테스트장비(ATE) 최초 공개

반도체 개발 검증을 위한 I2C / SPI 통신을 저렴하고 손쉽게 연결할 수 있는 시리얼 프로토콜 생성기에 대한 데모시연도

한국내쇼날인스트루먼트(대표이사 김주엽, www.ni.com/korea, 이하 한국NI)는 지난 2월 12일부터 14일까지 서울 코엑스(COEX)에서 개최된 『SEMICON KOREA 2014』에 참가해 내쇼날인스트루먼트의 기술력이 집약된 반도체 개발ㆍ검증ㆍ테스트ㆍ양산 솔루션 및 데모를 선보였다.

한국NI는 이번 행사에서 모듈형 계측기인 PXI 기반의 NI 반도체 양산 테스트 장비(ATE)를 본사 정식 출시 전 국내 테스트 엔지니어에게 최초 공개했다. 특히 어느 곳에나 쉽게 설치 가능한 저비용의 NI 반도체 양산 테스트 장비(ATE) 는 일부 고객에게만 공개했다.

한국NI는 본 세미콘 코리아 전시회에서 반도체 개발 검증을 위한 I2C / SPI 통신을 저렴하고 손쉽게 연결할 수 있는 시리얼 프로토콜 생성기에 대한 데모시연과 더불어 무료 세미나 신청을 받았다. 또한 반도체/LED 개발ㆍ검증ㆍ테스트ㆍ양산 단계에서 적용 가능하며, 고 정밀 측정 기능을 가진 NI PXIe-4139 데모와 Triquint와 ST-Ericsson이 도입한 NI PXI 기반 RF 통합 테스트 플랫폼(RF PAM Envelope Tracking Test)을 한국NI 부스에서 소개했다.